|
|
|
Scanning Electronen Microscoop (SEM)
|
|
|
Onderzoek tot in het diepste detail
Wanneer meer details van een monster onderzocht moeten worden is het gebruik van een elektronenmicroscoop noodzakelijk. Naast de mogelijkheid om te ‘kijken’ bij zeer hoge vergroting zijn chemische analyses van minutieuze details mogelijk. Onze elektronenmicroscoop is uitgerust met de volgende detectoren en technieken:- Secundaire elektronen (SE) detector voor de beeldvorming van het oppervlak (topografie)
- “Backscattered” elektronendetector voor het weergeven van materiaalcontrast en oriënteringscontrast
- Röntgen microanalysen (EDS, WDS), zowel kwalitatief als kwantitatief, voor bepaling van de verdeling van elementen over een bepaald oppervlak of voor het in kaart brengen van coatings of het meten van fijn stof
- Spectral Imaging: een compleet spectrum per pixel. Acquisities van 1.000 tot 10.000 pixels per seconde. De complete dataset kan worden opgeroepen om een nieuwe analyse te verrichten.
Op basis van spectral images kan met het eigen ontwikkelde programma KEMphase niet alleen een duidelijk overzicht worden gegevens van aanwezige elementen, maar zelfs van verbindingen.
Meer informatie? Neem contact met ons op.
|
|
|
|
|
|
|
|
